Hỏi về việc đo nhiễu xạ tia X!

[vaduc]

Nguyên văn bởi bluemonster

Hi,
Bạn vaduc có thể nói cụ thể mẫu cần đo được không. Vì technique đo thickness có thể kể tới AFM. Còn XRF chủ yếu dùng elemental analysis and chemical analysis.

Mình chưa nghe qua dùng XRF để đo thickness mẫu, có lẽ chưa đụng đến field này.

uhm, kỹ thuật dùng XRF để đo độ dày thực ra cũng đã có một thời gian, nhưng có lẽ nó không phổ biến bằng dùng để phân tích composition, và nhu cầu cũng ít nên không nhiều bạn quan tâm lắm. :-)

Nếu bạn nào quan tâm về kỹ thuật này thì có thể tìm hiểu từ Fischer / Oxford:

http://www.helmut-fischer.com/Produc...1&LanguageID=2

http://www.oxford-instruments.com/pr...es/cmi900.aspx


Bạn có thể cho mình biết thông tin về kỹ thuật AFM được không?

Thanks,
V.A.Đức